Kas ir SEU
Ar šo akronīmu saprot nedestruktīvu kļūmi mikroelektroniskās ierīcēs – procesoros, pusvadītāju atmiņās – gan operatīvās atmiņas moduļos, gan pusvadītāju diskos ilgstošākai datu glabāšanai. Kļūmes šādās ietaisēs mēdz būt dažādu iemeslu dēļ, un ikdienā nav pilnīgi pret kļūdām nodrošinātu ierīču. Taču SEU gadījumā interesants ir pats traucējuma cēlonis.
"SEU var iztēloties, kad kāda daļiņa, ejot cauri elektroniskai ietaisei, izmaina vienu bitu," skaidro Latvijas Universitātes Datorikas fakultātes profesors Leo Seļāvo. Daļiņu avoti var būt dažādi. Pirmo reizi šo fenomenu zinātnieki pamanīja jau 50. gados, veicot kodolbumbu izmēģinājumus. Sprādzienu laikā tiek emitēts arī spēcīgs gamma starojums un neitronu starojums, kas izsita no ierindas elektroniskās mērierīces. Sākotnēji gan tās tika uztvertas par dīvainām anomālijām, jo nereti nevarēja atrast nekādas problēmas pašos "dzelžos".
Iespējams, pirmā reize, kur zinātniskā publikācijā minēta kosmiskā starojuma iespējamā ietekme uz pusvadītāju ierīcēm, ir 1962. gadā publicētais Džona Volmarka un Senforda Markusa darbs.
Lai turpinātu lasīt, iegādājies abonementu.
Lūdzu, uzgaidi!
Pielāgojam Tev piemērotāko abonēšanas piedāvājumu...
Abonēšanas piedāvājums nav redzams? Lūdzu, izslēdz reklāmu bloķētāju vai pārlādē lapu.
Jautājumu gadījumā raksti konts@delfi.lv
